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Trabalho de evento-resumo periodico
Prensa de aplicação de carga estática: Prensa Y (2011)
Igai, F; Mori, Matsuyoshi; Soga, D; Muramatsu, M
Source: Brazilian Oral Research. Conference titles: Reunião Anual da SBPqO. Unidade: FO
Subjects: PRENSAS, CARGA
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ABNT
IGAI, F et al. Prensa de aplicação de carga estática: Prensa Y. Brazilian Oral Research. São Paulo: Faculdade de Odontologia, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 01 maio 2024. , 2011
APA
Igai, F., Mori, M., Soga, D., & Muramatsu, M. (2011). Prensa de aplicação de carga estática: Prensa Y. Brazilian Oral Research. São Paulo: Faculdade de Odontologia, Universidade de São Paulo.
NLM
Igai F, Mori M, Soga D, Muramatsu M. Prensa de aplicação de carga estática: Prensa Y. Brazilian Oral Research. 2011 ; 25 165.[citado 2024 maio 01 ]
Vancouver
Igai F, Mori M, Soga D, Muramatsu M. Prensa de aplicação de carga estática: Prensa Y. Brazilian Oral Research. 2011 ; 25 165.[citado 2024 maio 01 ]
Trabalho de evento-resumo periodico
Método da Interferometria Eletrônica por padrão de Speckle como instrumento de análise de deformações na Implantologia (2011)
Sizo, S. R; Kanashiro, M. V. Y; Takeshita, E. K; Laganá, Dalva Cruz; Campos, Tomie Nakakuki de; Soga, D; Muramatsu, M; Mori, Matsuyoshi
Source: Brazilian Oral Research. Conference titles: Reunião Anual da SBPqO. Unidade: FO
Subjects: TENSÃO DOS MATERIAIS, IMPLANTES DENTÁRIOS
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ABNT
SIZO, S. R et al. Método da Interferometria Eletrônica por padrão de Speckle como instrumento de análise de deformações na Implantologia. Brazilian Oral Research. São Paulo: Faculdade de Odontologia, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 01 maio 2024. , 2011
APA
Sizo, S. R., Kanashiro, M. V. Y., Takeshita, E. K., Laganá, D. C., Campos, T. N. de, Soga, D., et al. (2011). Método da Interferometria Eletrônica por padrão de Speckle como instrumento de análise de deformações na Implantologia. Brazilian Oral Research. São Paulo: Faculdade de Odontologia, Universidade de São Paulo.
NLM
Sizo SR, Kanashiro MVY, Takeshita EK, Laganá DC, Campos TN de, Soga D, Muramatsu M, Mori M. Método da Interferometria Eletrônica por padrão de Speckle como instrumento de análise de deformações na Implantologia. Brazilian Oral Research. 2011 ; 25 224.[citado 2024 maio 01 ]
Vancouver
Sizo SR, Kanashiro MVY, Takeshita EK, Laganá DC, Campos TN de, Soga D, Muramatsu M, Mori M. Método da Interferometria Eletrônica por padrão de Speckle como instrumento de análise de deformações na Implantologia. Brazilian Oral Research. 2011 ; 25 224.[citado 2024 maio 01 ]
Trabalho de evento-resumo periodico
Avaliação in vitro da carga oclusal em prótese sobre implantes através de fotoelasticidade e interferometria holográfica (2011)
Takeshita, E. K; Campos, Tomie Nakakuki de; Muramatsu, M; Soga, D; Kanashiro, M. V. Y; Muraro, B. S; Sizo, S. R
Source: Brazilian Oral Research. Conference titles: Reunião Anual da SBPqO. Unidade: FO
Subjects: OCLUSÃO DENTÁRIA, PRÓTESE, IMPLANTE DENTÁRIO ENDOÓSSEO
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ABNT
TAKESHITA, E. K et al. Avaliação in vitro da carga oclusal em prótese sobre implantes através de fotoelasticidade e interferometria holográfica. Brazilian Oral Research. São Paulo: Faculdade de Odontologia, Universidade de São Paulo. . Acesso em: 01 maio 2024. , 2011
APA
Takeshita, E. K., Campos, T. N. de, Muramatsu, M., Soga, D., Kanashiro, M. V. Y., Muraro, B. S., & Sizo, S. R. (2011). Avaliação in vitro da carga oclusal em prótese sobre implantes através de fotoelasticidade e interferometria holográfica. Brazilian Oral Research. São Paulo: Faculdade de Odontologia, Universidade de São Paulo.
NLM
Takeshita EK, Campos TN de, Muramatsu M, Soga D, Kanashiro MVY, Muraro BS, Sizo SR. Avaliação in vitro da carga oclusal em prótese sobre implantes através de fotoelasticidade e interferometria holográfica. Brazilian Oral Research. 2011 ; 25 308.[citado 2024 maio 01 ]
Vancouver
Takeshita EK, Campos TN de, Muramatsu M, Soga D, Kanashiro MVY, Muraro BS, Sizo SR. Avaliação in vitro da carga oclusal em prótese sobre implantes através de fotoelasticidade e interferometria holográfica. Brazilian Oral Research. 2011 ; 25 308.[citado 2024 maio 01 ]
Trabalho de evento-resumo
Phase-shifting real-time holography and holographic interferometry with photorefractive crystals (2005)
Gesualdi, M R R; Muramatsu, Mikiya; Soga, D
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, HOLOGRAFIA
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ABNT
GESUALDI, M R R e MURAMATSU, Mikiya e SOGA, D. Phase-shifting real-time holography and holographic interferometry with photorefractive crystals. 2005, Anais.. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física, 2005. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1455-1.pdf. Acesso em: 01 maio 2024.
APA
Gesualdi, M. R. R., Muramatsu, M., & Soga, D. (2005). Phase-shifting real-time holography and holographic interferometry with photorefractive crystals. In Resumos. São Paulo: Sociedade Brasileira de Física. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1455-1.pdf
NLM
Gesualdi MRR, Muramatsu M, Soga D. Phase-shifting real-time holography and holographic interferometry with photorefractive crystals [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 maio 01 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1455-1.pdf
Vancouver
Gesualdi MRR, Muramatsu M, Soga D. Phase-shifting real-time holography and holographic interferometry with photorefractive crystals [Internet]. Resumos. 2005 ;[citado 2024 maio 01 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R1455-1.pdf
Trabalho de evento-resumo
Real-time holography using Photoreffractive Sillenite crystal with phase-stepping technique (2004)
Gesualdi, M R R; Soga, D; Muramatsu, Mikiya
Source: Resumos. Conference titles: Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada. Unidade: IF
Subjects: MATÉRIA CONDENSADA, HOLOGRAFIA
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ABNT
GESUALDI, M R R e SOGA, D e MURAMATSU, Mikiya. Real-time holography using Photoreffractive Sillenite crystal with phase-stepping technique. 2004, Anais.. São Paulo: SBF, 2004. Disponível em: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1388-1.pdf. Acesso em: 01 maio 2024.
APA
Gesualdi, M. R. R., Soga, D., & Muramatsu, M. (2004). Real-time holography using Photoreffractive Sillenite crystal with phase-stepping technique. In Resumos. São Paulo: SBF. Recuperado de http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1388-1.pdf
NLM
Gesualdi MRR, Soga D, Muramatsu M. Real-time holography using Photoreffractive Sillenite crystal with phase-stepping technique [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 maio 01 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1388-1.pdf
Vancouver
Gesualdi MRR, Soga D, Muramatsu M. Real-time holography using Photoreffractive Sillenite crystal with phase-stepping technique [Internet]. Resumos. 2004 ;[citado 2024 maio 01 ] Available from: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxvii/sys/resumos/R1388-1.pdf
Trabalho de evento
Estudo da rugosidade na laminação a frio de chapas de aço (1999)
Saldanha, A; Bagger, Karl Kristian; Carvalho, M A; Muramatsu, Mikiya; Paiva Junior, R D; Soga, D; Sinatora, Amilton
Source: Anais. Conference titles: Workshop RECOPE: qualificação de chapas para a indústria automobilística : laminação, conformação, pintura. Unidade: EP
Assunto: LAMINAÇÃO
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ABNT
SALDANHA, A et al. Estudo da rugosidade na laminação a frio de chapas de aço. 1999, Anais.. São Paulo: Epusp/PME, 1999. Disponível em: https://repositorio.usp.br/directbitstream/bd8a591e-5b7d-4068-ae5f-c3bf66f453aa/sinatora-1999-estudo%20da%20rugosidade%20na%20laminacao.pdf. Acesso em: 01 maio 2024.
APA
Saldanha, A., Bagger, K. K., Carvalho, M. A., Muramatsu, M., Paiva Junior, R. D., Soga, D., & Sinatora, A. (1999). Estudo da rugosidade na laminação a frio de chapas de aço. In Anais. São Paulo: Epusp/PME. Recuperado de https://repositorio.usp.br/directbitstream/bd8a591e-5b7d-4068-ae5f-c3bf66f453aa/sinatora-1999-estudo%20da%20rugosidade%20na%20laminacao.pdf
NLM
Saldanha A, Bagger KK, Carvalho MA, Muramatsu M, Paiva Junior RD, Soga D, Sinatora A. Estudo da rugosidade na laminação a frio de chapas de aço [Internet]. Anais. 1999 ;[citado 2024 maio 01 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/bd8a591e-5b7d-4068-ae5f-c3bf66f453aa/sinatora-1999-estudo%20da%20rugosidade%20na%20laminacao.pdf
Vancouver
Saldanha A, Bagger KK, Carvalho MA, Muramatsu M, Paiva Junior RD, Soga D, Sinatora A. Estudo da rugosidade na laminação a frio de chapas de aço [Internet]. Anais. 1999 ;[citado 2024 maio 01 ] Available from: https://repositorio.usp.br/directbitstream/bd8a591e-5b7d-4068-ae5f-c3bf66f453aa/sinatora-1999-estudo%20da%20rugosidade%20na%20laminacao.pdf
Trabalho de evento-resumo
Roughness evolution during cold rolling cycles of stripes (1998)
Saldanha, A; Bagger, Karl Kristian; Carvalho, M A; Muramatsu, Mikiya; Paiva Junior, R D; Soga, D; P Filho, C S; Sinatora, Amilton
Source: Resumos de Trabalhos. Conference titles: Congresso Brasileiro de Aplicações de Vácuo na Indústria e na Ciência-CBRAVIC. Unidade: IF
Subjects: ÓPTICA, FÍSICA
A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
ABNT
SALDANHA, A et al. Roughness evolution during cold rolling cycles of stripes. 1998, Anais.. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron, 1998. . Acesso em: 01 maio 2024.
APA
Saldanha, A., Bagger, K. K., Carvalho, M. A., Muramatsu, M., Paiva Junior, R. D., Soga, D., et al. (1998). Roughness evolution during cold rolling cycles of stripes. In Resumos de Trabalhos. Campinas: Laboratório Nacional de Luz Síncrotron.
NLM
Saldanha A, Bagger KK, Carvalho MA, Muramatsu M, Paiva Junior RD, Soga D, P Filho CS, Sinatora A. Roughness evolution during cold rolling cycles of stripes. Resumos de Trabalhos. 1998 ;[citado 2024 maio 01 ]
Vancouver
Saldanha A, Bagger KK, Carvalho MA, Muramatsu M, Paiva Junior RD, Soga D, P Filho CS, Sinatora A. Roughness evolution during cold rolling cycles of stripes. Resumos de Trabalhos. 1998 ;[citado 2024 maio 01 ]

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